新聞中心
                            首頁 > 新聞中心 > 【新品上市】多角度納米粒度及Zeta電位分析儀

                            【新品上市】多角度納米粒度及Zeta電位分析儀

                             發布時間:2022-10-25 點擊量:399

                                  顆粒粒度對產品的質量起著至關重要的作用,為了幫助廣大用戶準確獲得顆粒粒度信息,以便更好地指導工業生產,澳譜特科技推出了939SZ多角度納米粒度及Zeta電位分析儀。不同粒度的顆粒在不同散射角具有不同的散射特性,多角度動態光散射從多個不同的散射角進行光強自相關函數的測量,并將其結合到一個數據分析中獲取顆粒粒度分布。多角度動態光散射技術具有如下優點:  
                                  1.避免了對未知樣品不恰當散射角度的選擇  
                                  2.可以提供更多的信息進行顆粒粒度分布的反演  
                                  因此,多角度動態光散射技術可以獲得更多的顆粒粒度測量信息,進而提高顆粒粒度分布的準確性。  

                            939SZ 納米粒度及Zeta電位分析儀.png


                            技術支持:化工儀器網   sitemap.xml   管理登陸
                            ©2023 版權所有:澳譜特科技(上海)有限公司   備案號:滬ICP備2020032931號-2
                            ChineSe少妇饥渴hdVideo丨18禁网站无遮挡可免费观看观丨Japanese avtube丨japanesexxxx乱子另类